SL-300光谱辐射分析仪

根据CIE No.63指南要求，全光谱法测量各种光源及半导体发光器件的光谱功率分布、色品坐标、色温、显色指数、色容差、色偏差、颜色纯度和主波长、光通量、亮度、辐射功率、光生物指数、发光效率等参数。广泛应用于荧光灯、高强度气体放电灯、卤钨灯、半导体发光器件，植物生长及医用光源等光、色分析。